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等离子体增强清洗装置、系统及清洗晶圆的方法

来源:二三四教育网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利申请

(21)申请号 CN201210183524.X (22)申请日 2012.06.05

(71)申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司

地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

(10)申请公布号 CN103456660A

(43)申请公布日 2013.12.18

(72)发明人 张城龙;王冬江;张海洋

(74)专利代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人 屈蘅

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

等离子体增强清洗装置、系统及清洗晶圆的方法

(57)摘要

本发明公开了一种等离子体增强清洗装

置、系统及清洗晶圆的方法,采用具有小于晶圆直径的等离子体增强清洗装置对晶圆进行清洗,尤其是对氟残留进行清洗,有利于热量的迅速散发,且小面积清洗能够保证清洗过的区域杂质去除干净,不需要进行湿法清洗,外围管道能够及时的将清洗的微粒和氟残留排出,大大的提高了清洗的质量,降低了边缘效应的影响,从而避免了清洗时对低K介质层的破坏,极大的降低了清

洗时的风险。

法律状态

法律状态公告日

2013-12-18 2013-12-18 2014-01-15 2014-01-15 2017-10-31

法律状态信息

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效

发明专利申请公布后的驳回法律状态

公开 公开

实质审查的生效 实质审查的生效

发明专利申请公布后的驳回

权利要求说明书

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说明书

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