(12)发明专利说明书
(21)申请号 CN201410563203.1 (22)申请日 2014.10.21
(71)申请人 京东方科技集团股份有限公司
地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
(10)申请公布号 CN104267329B
(43)申请公布日 2017.03.15
(72)发明人 商广良;林允植;韩承佑 (74)专利代理机构 北京市柳沈律师事务所
代理人 吕晓章
(51)Int.CI
权利要求说明书 说明书 幅图
(54)发明名称
晶体管测试电路以及测试方法
(57)摘要
公开了一种晶体管测试电路以及相应
的测试方法。该晶体管测试电路用于测试一组晶体管,其中该组晶体管包括至少两个晶体管,所述晶体管测试电路包括:第一电源电压端,连接到各个晶体管的第一极;第一控制信号端,连接到各个晶体管的控制极;以及一组测试端子,包括至少两个测试端子,其中,各个测试端子分别连接到各个晶体管的第二极。根据本发明公开的晶体管测试电路,可以同时测试多个晶体管的偏置电压特性。此外,还可以分别测试各个晶体管
的电流特性,避免了对多个晶体管逐一测试偏置电压特性,从而减少了等待时间,提高了测试效率。 法律状态
法律状态公告日
2015-01-07 2015-02-04 2017-03-15
法律状态信息
公开
实质审查的生效 授权
法律状态
公开
实质审查的生效 授权
权利要求说明书
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说明书
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