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晶体管测试电路以及测试方法

来源:二三四教育网
(19)中华人民共和国国家知识产权局

(12)发明专利说明书

(21)申请号 CN201410563203.1 (22)申请日 2014.10.21

(71)申请人 京东方科技集团股份有限公司

地址 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号

(10)申请公布号 CN104267329B

(43)申请公布日 2017.03.15

(72)发明人 商广良;林允植;韩承佑 (74)专利代理机构 北京市柳沈律师事务所

代理人 吕晓章

(51)Int.CI

权利要求说明书 说明书 幅图

(54)发明名称

晶体管测试电路以及测试方法

(57)摘要

公开了一种晶体管测试电路以及相应

的测试方法。该晶体管测试电路用于测试一组晶体管,其中该组晶体管包括至少两个晶体管,所述晶体管测试电路包括:第一电源电压端,连接到各个晶体管的第一极;第一控制信号端,连接到各个晶体管的控制极;以及一组测试端子,包括至少两个测试端子,其中,各个测试端子分别连接到各个晶体管的第二极。根据本发明公开的晶体管测试电路,可以同时测试多个晶体管的偏置电压特性。此外,还可以分别测试各个晶体管

的电流特性,避免了对多个晶体管逐一测试偏置电压特性,从而减少了等待时间,提高了测试效率。 法律状态

法律状态公告日

2015-01-07 2015-02-04 2017-03-15

法律状态信息

公开

实质审查的生效 授权

法律状态

公开

实质审查的生效 授权

权利要求说明书

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说明书

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