专利名称：一种基于试验数据的传感器元件质量评估方法专利类型：发明专利
发明人：龙军,关威,刘旭辉,汪旭东,耿金越,付新菊,张恒,石召
新,杨灵芝,吕泰增,沈岩,陈君,魏延明
申请号：CN201811581604.4申请日：20181224公开号：CN109724637A公开日：20190507
摘要：本发明提供一种基于试验数据的传感器元件质量评估方法，用于传感器元件的可靠性筛选，该方法基于传感器元件试验数据，采用相关性分析和主成分分析的数学方法发掘传感器元件试验过程数据隐含的信息，并采用概率统计的方法对分析结果进行量化和数据判读，以剔除存在风险的传感器元件。本发明从试验数据分析角度出发，能有效弥补传统方法仅依靠可靠性试验进行筛选的不足，可以很好地用于传感器元件的可靠性筛选，尤其适用于航空、航天等领域对传感器元件可靠性要求高的场合。
申请人：北京控制工程研究所
地址：100080 北京市海淀区北京2729信箱
国籍：CN
代理机构：中国航天科技专利中心
代理人：张晓飞
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